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近年來各種電子設(shè)備層出不窮，給我們的生活帶來了極大的便利。在各種電子設(shè)備中應(yīng)用最廣泛的元件應(yīng)該就是電阻了，如果電阻器不好，在一定程度上會直接影響到后期電路的正常使用。因此，為了保障電路的正常使用，一定要對電阻器的檢測予以重視。今天就讓我們來學(xué)習(xí)學(xué)習(xí)電阻的實際檢測方法吧。

2021-10-21 11:15:09

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進(jìn)入21世紀(jì)后，電子信息技術(shù)成為最重要的技術(shù)，電子元器件則是電子信息技術(shù)發(fā)展的前提。為了促進(jìn)電子信息技術(shù)的進(jìn)一步發(fā)展，就要提高電子元器件的可靠性。 電子元件的損壞，一般很難被觀察者察覺，在很多情況下，需要借助儀器進(jìn)行檢測判斷，以下內(nèi)容由創(chuàng)芯檢測網(wǎng)整理，提供給您參考。

2021-10-20 15:58:49

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芯片在線燒錄，集燒錄與測試一體，得到了越來越多的人重視。事實上，燒錄是一種將數(shù)據(jù)寫入可編程集成電路的工具。燒錄主要用于編寫芯片的程序(或刷寫)，如單金屬管(嵌入)/存儲器(嵌入)。初次接觸嵌入式的朋友對編程、燒錄的概念感到困惑，認(rèn)為內(nèi)存必須用火燒制。實際上，嵌入式編程、燒錄的概念，就是將程序?qū)懭氪鎯ζ?，類似于日常生活中的下載。燒錄器提供的燒錄接口都是用來配合各種封裝的芯片的，建議批量生產(chǎn)的客戶選擇燒錄器廠家推薦的適配器進(jìn)行芯片燒錄，如果使用未經(jīng)測試的適配器，會存在接觸不良、卡壞芯片等降低燒錄成功

2021-10-20 15:26:02

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芯片是智能設(shè)備的核心，就如同汽車的發(fā)動機一樣，對整個產(chǎn)品起著關(guān)鍵性的作用。因此，IC芯片的質(zhì)量對整個電子產(chǎn)品的作用非常大，它影響著整個產(chǎn)品上市后的質(zhì)量問題。比較精密的電子元器件，將所需要用到的電子元器件（晶體管、二極管、電阻、電容和電感等元件）封裝在一個管殼內(nèi)，成為電路所需的功能性微型結(jié)構(gòu)體，結(jié)構(gòu)越精密，檢測難度越大。一般企業(yè)為了確保IC芯片是否存在質(zhì)量問題，通常會對IC芯片進(jìn)行檢測。創(chuàng)芯檢測教您如何對IC芯片進(jìn)行檢測

2021-10-20 15:22:19

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將許多電阻、二極管和三極管等元器件以電路的形式制作半導(dǎo)體硅片上，然后接出引腳并封裝起來，就構(gòu)成了集成電路。如何準(zhǔn)確判斷電路中集成電路IC是否處于工作狀態(tài)呢?要是判斷不準(zhǔn)確，往往花大力氣換上新集成電路而故障依然存在。接下來，我們來看看如何判斷集成電路IC芯片好壞?

2021-10-20 14:10:57

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IC芯片引腳是否合格，是成型分離制程檢測的關(guān)鍵。針對這一問題，應(yīng)用機器視覺和機器自動化技術(shù)，研制出實現(xiàn)成型分離制程芯片檢測自動化的檢測系統(tǒng)。實驗測試表明，該設(shè)備具有較高的檢測精度和檢測速度，能夠滿足生產(chǎn)需要。下面主要介紹ic芯片引腳判斷順序、氧化及各功能介紹及檢測。

2021-10-20 13:30:00

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隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，電子元器件的種類越來越多，大約有萬余種。其應(yīng)用領(lǐng)域也十分廣泛，如晶閘管(SCR)、電感線圈、變壓器、晶體振蕩器、耳機、電阻、電容等，它們都是利用電子元件。在生產(chǎn)過程中，任何產(chǎn)品都會產(chǎn)生一些不良的外觀，電子元器件當(dāng)然也不例外。那電子元器件的外觀質(zhì)量檢測包括那些方面?

2021-10-19 16:10:55

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為什么有時元器件會無緣無故失效？集成電路結(jié)構(gòu)遵循摩爾定律，變得越來越小。正常工作溫度下物的遷移導(dǎo)致器件在幾十年內(nèi)失效的風(fēng)險增加。此外，磁致伸縮引起的疲勞會導(dǎo)致電感機械疲勞，這是一種廣為人知的效果。有些類型的電阻材料會在空氣中緩慢氧化，當(dāng)空氣變得更加潮濕時，氧化速度會加快。

2021-10-19 15:35:06

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芯片測試，一般是從測試的對象上分為最終測試和晶圓測試，分別指的是是已經(jīng)封裝好的芯片，和尚未進(jìn)行封裝的芯片。為啥要分兩段？簡單的說，因為封裝也是有cost的，為了盡可能的節(jié)約成本，可能會在芯片封裝前，先進(jìn)行一部分的測試，以排除掉一些壞掉的芯片。而為了保證出廠的芯片都是沒問題的，最終測試也即FT測試是最后的一道攔截，也是必須的環(huán)節(jié)。

2021-10-19 14:55:00

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隨著電子設(shè)備小型化的需求越來越大，單一芯片的功能越來越多?，F(xiàn)有技術(shù)中，為了保證芯片的質(zhì)量，在設(shè)計成型至大批量生產(chǎn)的過程之間，通常包括芯片檢測階段。然而傳統(tǒng)的芯片調(diào)試技術(shù)是基于芯片功能額外開發(fā)的一套針對功能的測試程序，其通常只能檢測到芯片是否出現(xiàn)錯誤或者故障，并不能對芯片終端中的錯誤進(jìn)行準(zhǔn)確的定位，只能通過檢測人員的經(jīng)驗進(jìn)行判斷，從而導(dǎo)致芯片檢測的速度較慢，效率較低。

2021-10-19 14:25:00

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