萬用表不僅可以用來測量被測量物體的電阻,交直流電壓還可以測量直流電壓。甚至有的萬用表還可以測量晶體管的主要參數(shù)以及電容器的電容量等。充分熟練掌握萬用表的使用方法是電子技術(shù)的最基本技能之一。萬用表怎樣快速判斷集成電路IC芯片是否正常或損壞?


失效分析是發(fā)展中的新興學科,失效分析常用技術(shù)手段有外觀檢查、無損檢測、熱分析、電性能測試、染色及滲透檢測等。它通常根據(jù)失效模式和現(xiàn)象并通過分析和驗證來模擬和重現(xiàn)失效現(xiàn)象,找出失效原因,并找出失效的機理活動。對于提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開發(fā),改進工藝,產(chǎn)品維修和仲裁失效事故具有重要的現(xiàn)實意義。


芯片是制作IC最基礎(chǔ)的半導體材料,芯片的質(zhì)量決定著IC成品的質(zhì)量好壞,芯片尺寸檢測系統(tǒng)對芯片的各部分位置尺寸進行檢測。在處理芯片之前,對芯片進行嚴格的外觀尺寸檢測是非常重要的環(huán)節(jié),有利于后續(xù)的加工,提高芯片加工效率。芯片尺寸檢測系統(tǒng)簡單設(shè)定后,即可自動檢測、計算,如有異常發(fā)生,可提示報警或者控制機器停機。對不符合要求的工件檢測后可輸出NG信號。


對于電子制造企業(yè)來說,電子產(chǎn)品生產(chǎn)是一項重要內(nèi)容,質(zhì)控體系的構(gòu)建必須要重視電子產(chǎn)品生產(chǎn)過程中質(zhì)量控制,以切實優(yōu)化生產(chǎn)工藝,提升電子產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量,保證電子產(chǎn)品的實用價值,這對于企業(yè)的建設(shè)以及社會經(jīng)濟的發(fā)展也具有重要意義。由于電子產(chǎn)品的生產(chǎn)過程比較復雜,涉及的影響因素非常多,所以必須實時監(jiān)控電子產(chǎn)品的生產(chǎn)條件,對現(xiàn)有的生產(chǎn)過程的質(zhì)量管理及控制方法進行完善,確保生產(chǎn)出合格的電子產(chǎn)品,為人們的生活提供更多便利。


電器是通過電流的運動來實現(xiàn)運作的,而電容則是通過電器電壓來達到容電效果,這種類型的產(chǎn)品在使用過程中經(jīng)常都會遇到一個比較致命的問題那就是短路,產(chǎn)品一旦短路,無非就是內(nèi)部的電容出現(xiàn)失效或者破損的現(xiàn)象,所以分析并解決導致短路現(xiàn)象的原因很重要。


近日,華為傳來好消息,經(jīng)過技術(shù)人員的不懈努力,華為在芯片檢測技術(shù)上取得進展,并公開了“一種檢測芯片裂縫的裝置”專利,公開號為 CN113748495A。


PCBA是由PCB和各種電子元件組成的系統(tǒng)。PCB的主要材料是玻璃纖維和環(huán)氧樹脂的復合材料,分為單面板,雙面板和多層板。眾所周知,產(chǎn)品的失效會造成較嚴重的經(jīng)濟損失和品質(zhì)影響,然而PCB失效的模式多種多樣,失效根因也各不相同,例如PTH孔銅的腐蝕失效、HDI盲孔底部裂紋導致的開路失效、分層爆板失效、ENIG產(chǎn)品孔環(huán)裂紋和PCB板短路起火等。


隨著科學技術(shù)的發(fā)展,尤其是電子技術(shù)的更新?lián)Q代,對電子設(shè)備所用的元器件的質(zhì)量要求越來越高,半導體器件的廣泛使用,其壽命經(jīng)過性能退化,最終導致失效。有很大一部分的電子元器件在極端溫度和惡劣環(huán)境下工作,造成不能正常工作,也有很大一部分元器件在研發(fā)的時候就止步于實驗室和晶圓廠里。除去人為使用不當、浪涌和靜電擊穿等等都是導致半導體器件的壽命縮短的原因,除此之外,有些運行正常的器件也受到損害,出現(xiàn)元器件退化。


隨著國內(nèi)檢測機構(gòu)行業(yè)的迅速崛起,檢測機構(gòu)的發(fā)展趨勢也成了人們探討的話題。政府加快職能轉(zhuǎn)變,大量技術(shù)工作將由第三方檢驗檢測機構(gòu)承擔,通過購買服務(wù)、采信結(jié)果等方式,檢驗檢測市場步入發(fā)展的快車道。對已經(jīng)生產(chǎn)加工出來的產(chǎn)品進行檢測是各廠家必走的程序,在此過程中選擇合作的檢測機構(gòu)水平是不可大意,檢測水平高、檢測質(zhì)量好的機構(gòu)能盡職盡責的提供詳細檢測結(jié)果,避免非正規(guī)檢測機構(gòu)對產(chǎn)品檢測不準確存在誤差,那么具體來說挑選正規(guī)第三方檢測機構(gòu)有哪些需要的注意事項?


一般來說,集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免,隨著人們對產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片失效分析,可以幫助集成電路設(shè)計人員找到設(shè)計上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計與操作中的不當?shù)葐栴}。

