電子元器件是航天產(chǎn)品不可缺少的重要組成部分,是其賴以提高性能和可靠性水平的重要技術(shù)基礎(chǔ)之一。航天事業(yè)發(fā)展的歷程告訴我們,電子元器件的性能、質(zhì)量與可靠性是航天產(chǎn)品成敗的關(guān)鍵性因素之一。本文收集整理了一些資料,期望能對(duì)各位讀者有比較大的參閱價(jià)值。


FMEA是在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段和過程設(shè)計(jì)階段,對(duì)構(gòu)成產(chǎn)品的子系統(tǒng)、零件,對(duì)構(gòu)成過程的各個(gè)工序逐一進(jìn)行分析,找出所有潛在的失效模式,并分析其可能的后果,從而預(yù)先采取必要的措施,以提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性的一種系統(tǒng)化的活動(dòng)。為增進(jìn)大家對(duì)產(chǎn)品失效分析FMEA的認(rèn)識(shí),以下是小編整理的失效分析FMEA項(xiàng)目相關(guān)內(nèi)容,希望能給您帶來參考與幫助。


實(shí)驗(yàn)室儀器設(shè)備的問題與風(fēng)險(xiǎn) 1、相互有影響的儀器設(shè)備放置在一起,相互干擾,數(shù)據(jù)不準(zhǔn)。 2、儀器設(shè)備長期不校準(zhǔn)/檢定,準(zhǔn)確性無保障。 3、儀器設(shè)備不做期間核査,性能不撐控。 4、儀器設(shè)備無狀態(tài)標(biāo)識(shí)或標(biāo)識(shí)混亂,容易錯(cuò)用。


在實(shí)際加工過程中也會(huì)遇到PCBA焊點(diǎn)失效的問題,焊點(diǎn)的失效一方面來源于生產(chǎn)裝配中的焊接故障,如釬料橋連、虛焊、曼哈頓現(xiàn)象等;另一方面是在服役條件下,當(dāng)環(huán)境溫度變化時(shí),由于元器件與基板材料存在的熱膨脹系數(shù)差,在焊點(diǎn)內(nèi)產(chǎn)生熱應(yīng)力,應(yīng)力的周期性變化會(huì)造成焊點(diǎn)的疲勞損傷,同時(shí)相對(duì)于服役環(huán)境的溫度,SnPb釬料的熔點(diǎn)較低,隨著時(shí)間的延續(xù),產(chǎn)生明顯的粘性行為,導(dǎo)致焊點(diǎn)的變損傷。有必要分析并找出原因,以避免再次發(fā)生焊點(diǎn)故障。那么今天,就來給大家介紹一下PCB焊點(diǎn)失效分析的主要因素吧。


實(shí)驗(yàn)室事故頻發(fā),實(shí)驗(yàn)室安全警鐘必須常鳴。為防止重大安全事故發(fā)生,需要完善應(yīng)急管理機(jī)制,能迅速有效的控制和處置可能發(fā)生的事故,保護(hù)人身安全和財(cái)產(chǎn)安全,保障實(shí)驗(yàn)室的安全和正常運(yùn)轉(zhuǎn)。為幫助大家深入了解,以下內(nèi)容由創(chuàng)芯檢測網(wǎng)整理,提供給您參考。


想知道什么是認(rèn)證、認(rèn)可、檢驗(yàn)、檢測嗎?認(rèn)證認(rèn)可檢驗(yàn)檢測在國際上統(tǒng)稱為合格性評(píng)定。是國際通行的基礎(chǔ)規(guī)則。其本質(zhì)屬性是“傳遞信任,服務(wù)發(fā)展”,具有市場化、國際化的突出特點(diǎn),被稱為質(zhì)量管理的“體檢證”、市場經(jīng)濟(jì)的“信用證”、國際貿(mào)易的“通行證”。本文收集整理了一些資料,期望能對(duì)各位讀者有比較大的參閱價(jià)值。


一、在電磁兼容性(EMC)領(lǐng)域,為什么總是用分貝(dB)的單位描述? 答:因?yàn)橐枋龅姆群皖l率范圍都很寬,在圖形上用對(duì)數(shù)坐標(biāo)更容易表示,而dB就是用對(duì)數(shù)表示時(shí)的單位。


近年來,宏觀環(huán)境多變,疫情影響反復(fù),給國內(nèi)電子產(chǎn)業(yè)鏈帶來不小沖擊。“缺芯潮”的持續(xù)發(fā)酵,給市場上的物料供應(yīng)帶來困難,也間接促使假貨滋長泛濫,嚴(yán)重危害到正常的供應(yīng)鏈秩序。在市場需求的推動(dòng)下,國產(chǎn)芯片憑借出色的性價(jià)比和本土化服務(wù)日益頂替進(jìn)口芯片原有的地位,但廣大終端對(duì)于替代方案的選型、測試、開發(fā)等問題,尚有待專業(yè)化的解決方案加以應(yīng)對(duì)。


隨著電子技術(shù)的發(fā)展,電子元器件在設(shè)備中應(yīng)用數(shù)量逐漸增多,對(duì)電子元器件的可靠性也提出了越來越高的要求。電子元器件是電子設(shè)備的基礎(chǔ),是保證電子設(shè)備高可靠的基本資源,其可靠性直接影響設(shè)備的工作效能的充分發(fā)揮。為幫助大家深入了解,以下內(nèi)容由創(chuàng)芯檢測網(wǎng)整理,提供給您參考。


MOS管是金屬(metal)—氧化物(oxide)—半導(dǎo)體(semiconductor)場效應(yīng)晶體管,或者稱是金屬—絕緣體(insulator)—半導(dǎo)體。MOS管的source和drain是可以對(duì)調(diào)的,他們都是在P型backgate中形成的N型區(qū)。要正確測試判斷MOSFET是否失效,重要關(guān)鍵是要找到失效背后的原因,并避免再犯同樣的錯(cuò)誤,本文收集整理了一些資料,期望能對(duì)各位讀者有比較大的參閱價(jià)值。




